- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analogues; mesure des angles; mesure des superficies; mesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 9/02003 - Interféromètres caractérisés par la commande ou la génération des propriétés intrinsèques du rayonnement utilisant plusieurs fréquences utilisant des fréquences de battement
Détention brevets de la classe G01B 9/02003
Brevets de cette classe: 38
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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ASML Netherlands B.V. | 6816 |
3 |
Aurora Operations, Inc. | 410 |
3 |
Raytheon Company | 8535 |
2 |
Omron Corporation | 6968 |
2 |
Mitutoyo Corporation | 1218 |
2 |
UT-Battelle, LLC | 1333 |
2 |
OnPoint Technologies, LLC | 56 |
2 |
NEC Corporation | 32703 |
1 |
Hitachi, Ltd. | 16452 |
1 |
Lockheed Martin Corporation | 3406 |
1 |
Tsinghua University | 5426 |
1 |
Nippon Telegraph and Telephone Corporation | 14195 |
1 |
Carl Zeiss SMT GmbH | 2646 |
1 |
ams International AG | 399 |
1 |
Board of Trustees of Michigan State University | 1141 |
1 |
Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences | 19 |
1 |
Dental Imaging Technologies Corporation | 126 |
1 |
Eth Zurich | 1193 |
1 |
The Government of The United States of America, AS represented by The Secretary of Commerce | 43 |
1 |
Harbin Institute of Technology | 356 |
1 |
Autres propriétaires | 9 |